『計測展2007 TOKYO』が、来る11月7日（水）から11月9日（金）の3日間
社団法人日本電気計測器工業会の主催で東京ビックサイト（有明・東京国際展示場）
西1・2ホールで開催される。
今年は『今を測る 未来を拓く』をテーマに、電気・電子計測、コントロール（PA/FA）、
環境・分析・バイオ・放射線計測、センサ・フィールド機器、関連製品・サービスの5つのゾーンを設け、
来場者が目的別に情報を収集できるように構成している。
併催企画として、各界の第一人者による製造業の課題を見据えたテーマの『基調講演』、
計測・制御から応用分野にいたる最新の技術トレンドを紹介する『専門カンファレンス』、
新たに計測と制御の基礎知識を磨くセッションの『チュートリアル』、出展各社による『テクニカルセミナー』、
JEMIMA委員会活動を通して展開されるテーマの中から注目度の高い情報を提供する
『JEMIMA委員会セミナー』など多彩なものとなっている。
主催者側では、来場者目標30,000人に向け、多彩多様なツールを組み合わせ、
総力を挙げて計測・制御関連技術者およびユーザーにアピールを行っている。
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会期：2007年11月7日（水）〜9日（金） 10：00〜17：00
会場：東京ビッグサイト（有明・東京国際展示場）西1・2ホール
主催：（社）日本電気計測器工業会（JEMIMA）
共催：日経BP社
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